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> FIB/SEM雙束電鏡
FEI FIB雙束掃描電子顯微鏡Helios 5 DualBeam
用于 TEM 和 STEM 成像或原子探針斷層掃描的樣品制備。產(chǎn)品可實(shí)現(xiàn)先進(jìn)的自動(dòng)化操作，簡(jiǎn)單易用，并且能夠進(jìn)行高質(zhì)量的亞表面 3D 表征。
型號(hào)：
Helios 5 DualBeam
發(fā)布時(shí)間：2022-12-04
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